Sigray AttoMap™ 微束X射线荧光光谱仪

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价 格:0元
 将同步辐射X射线微束分析性能带入实验室。
• 在大工作距离下实现<8μm束斑化学成像
• 比普通微束X射线荧光仪的分析速度提高近500倍
• 分析灵敏度达<10-15克, 比普通微束X射线荧光光谱仪提高2~3个数量级
• 创新技术(专利申请中)实现在大工作距离下获得最佳的微米束斑定量分析
• 同一系统中实现高分辨率2D关联X射线分析
 详细介绍
 主要技术参数
束斑尺⼨⾼分辨率(< 8 μm)。同时可选中等分辨率(100 - 300 μm) 选件。
灵敏度⼩于ppm(探测时间<1秒); 痕量元素成像(⾯分析)。
绝对检测限: 10-12g (探测时间<1秒), 10-15g (探测时间<100秒)。
附加功能2D关联X射线和光学成像。
X射线源FAAST™微结构X射线源(专利申请中)。
靶材料可选双能量, 可选靶材包括: Ti, Cu, Rh, W, Pt, Mo等。
根据⽤户需求可选其它靶材,包括在常规微聚焦X射线源中从未使⽤的靶材。
功率| ⾼压| 电⼦束流50 W | 20-50 kV | 4 mA
X射线光学器件双抛物⾯X射线反射镜透镜。
X射线透射效率⾼达约80%。
⼯作距离10-100 mm (可选)。
透镜内镀层Pt (可显著提⾼透镜的光学数字光圈)。
X射线探测器SDD探测器,安装在样品附近正常位置以获得最⼤采集⾓。
能量分辨率<130 eV (Mn-Ka)。


 

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